Métrologie

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Responsable : Ernest Hirsch

Membres :

  • Alex Lallement
  • Sophie Kohler (MIPS, UHA)
  • Amar Hannachi

L'objectif de ce thème de recherche est le développement de méthodes de comparaison d'images réelles et conceptuelles reposant sur une modélisation des applications afin de pouvoir mieux concevoir des systèmes de vision à base de connaissances, en particulier pour la métrologie dimensionnelle et la reconstruction 3D.

Problématique

L'objectif général est le développement et la mise en oeuvre de nouvelles approches algorithmiques pour le traitement d'images isolées et de séquences d'images, avec pour finalité à moyen/long terme l'évaluation quantitative précise des caractéristiques extraites des images acquises par une (ou des) caméra(s) associée(s) à un système de vision artificielle pouvant faire appel à des structures hétérogènes distribuées à base de connaissances. Les objectifs du thème sont ainsi, entre autres, de contribuer aux fondements théoriques de la comparaison d'images CAO et CCD en vue d'une extraction contrôlée d'indices images nécessaire à une modélisation fine du contenu de l'image (application à la mesure dimensionnelle et à la métrologie) et de concevoir et mettre en oeuvre une base d'expertise distribuée pour la vision par ordinateur, pour y intégrer des outils de planification d'une séance d'acquisition et d'extraction contrôlée de données, en étroite coopération avec les partenaires européens du laboratoire.

Travaux de recherche
  • Comparaison d'images CCD et CAO. Fondements théoriques et méthodes de comparaison.
  • Traitement d'images associé et applications.
  • Système à base de connaissance pour la vision par ordinateur. Méthodes de traitement d'images et base de connaissance.


Outils de modélisation en vue d’une reconstruction 3D par vision par ordinateur

Automatisation d’une application en vision (industrielle) par ordinateur à l’aide de graphes de situation

Estimation des erreurs 3D pour la reconstruction d’une pièce manufacturée